科學發表的最後一哩路——期刊發表與同儕評審紀實:紀念《Nanotechnology》總編輯與量子點發明及命名人Mark A. Reed教授

科學發表的最後一哩路——期刊發表與同儕評審紀實:紀念《Nanotechnology》總編輯與量子點發明及命名人Mark A. Reed教授

美國耶魯大學工程及應用科學學院Mark A. Reed教授去世了(ref.1)。雖然未曾謀面,但我會經久記得Reed教授的名字,是由於十多年前(2005年前後幾年)奈米科技研究正熱門時,我們曾經系統性地測量過一系列半導體奈米線的電學性質,並選定投稿《Nanotechnology》期刊。那時,Reed教授擔任編輯人之一(尚不是總編輯),負責審理涵蓋奈米尺度材料及元件的物理性質和材料性質範圍的稿件,他主張該期刊要「刊登深入、完整而難以用短篇通訊形式呈現的論文」(in-depth, comprehensive articles not seen in other letter format journals),很符合我們實驗室的口味。在那段奈米期刊百花齊放,新刊接連迸出,令人眼花繚亂的年代,創刊於1990年的《Nanotechnology》隱約給人一種腳踏實地,穩紮營壘,值得信賴的感覺。此外,大約在同一時期,或許由於投稿量暴增,《Physical Review B》雖未明言,但似乎有意排斥接受奈米研究相關論文。因此,我們就連續在《Nanotechnology》發表了幾篇長文,討論金屬和半導體奈米線的「本徵」(intrinsic)電性傳輸(輸運)過程。實驗上,我們一律採用電子束微顯影製程(偶而使用聚焦離子束蝕刻方法),在仔細挑選出的單根奈米線上製作四點電極(4-probe method),進行室溫到液氦溫度的測量,因此一則可以排除來自接點電阻(contact resistance)的嚴重干擾,測得奈米線本身的電阻特性,二則可以藉由電阻對溫度和磁場的變化,進一步分析樣品中的導電過程和微觀機制,故稱本徵特性。

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